Mikrostrukturanalyse mit REM

Mikrostrukturanalyse mit REM
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ermöglicht die Abbildung von Materialoberflächen mithilfe eines fokussierten Elektronenstrahls. Mikrostrukturen und Topografien von Materialien können analysiert werden, und mit den Detektoren für energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD) lassen sich sowohl die Zusammensetzung als auch die Kristallstrukturen im Nanometerbereich bestimmen.