Transmissionselektronenmikroskopie

Transmissionselektronenmikroskopie
Die Transmissionselektronenmikroskopie ermöglicht die direkte Abbildung atomarer Gitterstrukturen und liefert damit einzigartige Einblicke in die innerste Ordnung von Werkstoffen. Sie ist ein unverzichtbares Werkzeug zur Analyse von Phasengrenzen, Versetzungen, Stapelfehlern und Ausscheidungen auf atomarer Ebene.