Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein zentrales Werkzeug zur hochauflösenden Untersuchung von Materialoberflächen und Mikrostrukturen. Mithilfe fokussierter Elektronenstrahlen ermöglicht sie die detaillierte Darstellung topographischer, chemischer und kristallographischer Informationen bis in den Nanometerbereich.